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          致茂Chroma 3380/3380P/3380D VLSI測試系統

          產品簡介

          致茂Chroma 3380/3380P/3380D VLSI測試系統
          50/100 MHz 測試頻率
          50/100 Mbps 數據速率
          1024 數字通道管腳 (蕞高1280 數字通道管腳)
          高達1024 sites 并行測試
          32/64/128 pattern 記憶體
          16M capture memory per pin
          多樣化 VI 電源

          產品型號:3380/3380P/3380D
          更新時間:2023-12-25
          廠商性質:代理商
          訪問量:6977
          詳細介紹在線留言
          品牌Chroma/致茂產地類別國產
          應用領域電子

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          致茂Chroma 3380/3380P/3380D VLSI測試系統

          3380 VLSI測試系統

          主要特色:

          • 50/100 MHz 測試頻率
          • 50/100 Mbps 數據速率
          • 1024 數字通道管腳 (蕞1280 數字通道管腳)
          • 高達1024 sites 并行測試
          • 32/64/128 pattern 記憶體
          • 16M capture memory per pin
          • 多樣化 VI 電源
          • 彈性化硬體架構 (可互換式 I/O, VI, ADDA)
          • Real parallel trim/match 功能
          • 時序頻率測試單位 (TFMU)
          • 高速時序測試單位 (HSTMU)
          • 支援STDF工具
          • 測試program/pattern轉換器 (J750, D10, S50/100, E320, SC312, V7, TRI-6036等)
          • AD/DA功能板卡 *可選配
          • SCAN向量存儲深度(蕞 2G bits/chain) *可選配
          • ALPG 測試功能可供記憶體IC用 *可選配
          • CRAFT C/C++ 程式語言
          • 軟件介面與3380P/3360P相同
          • 人性化的 Windows 7操作系統

           為因應未來IC晶片腳位數更多、速率更高、整合功能更為復雜的發展驅勢,Chroma以此發展方向提供新一代3380系列VLSI測試機臺,包含3380D、3380P、3380機型,根據不同的腳位數或并行測試(Parallel Test),提供需求與成本效益兼具的測試解決方案。

          此系列機型之一的VLSI測試系統3380,具有蕞1280數字通道管腳、256 VI、彈性化架構、以及完整選項功能板(ADDA/Hi-voltage DPS)等特色;可符合高同測的市場驅勢,具備1024數字通道管腳可并行測試1024個晶片的能力。除了*的4-wire高密度IC電源(VI source)外,彈性化可調整的架構還可提供Mini & Macro LED驅動IC、CMOS影像感測器(CIS)、及3D影像測試等解決方案;以利涵蓋更廣泛的IC測試功能與應用范圍。

          3380 VLSI測試系統可無縫接軌3380D(256pins)與3380P(512pins),以因應更高的產能需求。 3380系列VLSI測試系統無論在裝機、穩定度、友善使用介面、及成本效益上,長期以來皆已于中國市場獲得廣泛印證。

          應用范圍

          • 微控制器單元 (MCU)
          • ADC/DAC混合信號IC
          • 邏輯IC
          • ADDA
          • ALPG
          • Smart card
          • Mini & Macro LED驅動IC
          • CMOS影像感測器 (CIS)
          • 電源IC (Class D IC)
          • 消費性IC
          • LED驅動IC

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          ModelDescription詢價
          3380VLSI 測試系統 
           

          致茂Chroma 3380/3380P/3380D VLSI測試系統

          3380P VLSI測試系統

           主要特色:

          • 50/100 MHz測試頻率
          • 50/100 Mbps數據速率
          • 512數字通道管腳 (蕞可至 576數字通道管腳)
          • 并行測試可達 512 sites 同測數
          • 32/64/128M Pattern 記憶體
          • 多樣彈性 VI 電源
          • 彈性化硬體結構 (可互換式 I/O, VI, ADDA)
          • Real parallel Trim/Match 功能
          • 時序頻率測試單位 (TFMU)
          • AD/DA 功能板卡 (16/24 bits) *可選配
          • SCAN向量存儲深度(蕞 2G bits/chain) *可選配
          • ALPG 測試選配供記憶體 IC用
          • STDF 工具支援
          • 測試程式/pattern 轉換器 (J750, D10, V50, E320, SC312, V7, TRI-6020, ITS9K)
          • 人性化 Window 7 操作系統
          • CRAFT C/C++ 程式語言
          • 軟件介面與 3380P/3360P 相同
          • Direct mount 治具可相容于3360P probe-card
          • Cable mount 治具可相容于3360D與3360P

           為因應未來IC晶片須具備更高速度及更多腳位及更復雜功能的IC晶片,Chroma新一代VLSI測試系統3380D/3380P/3380除采用更彈性架構外,整合密度更高且功能更強大。

          3380D/3380P/3380機型為因應高同測(HighParallel Test)功能,除內建*的4-wire功能高密度IC電源(VI source)外,更具備Any Pins to Any Site高同測功能(512 I/O pin可并行測512 個測試晶片),以因應未來IC晶片更高的測試需求。

          3380P同時具備All-In-One (Only Test Head) 的小型化、低耗能化設計及非常具競爭性的機臺性價比。

          3380系列VLSI測試系統無論在裝機、穩定度、友善使用介面、及成本效益上,長期以來皆已于中國市場獲得廣泛印證。

          涵蓋廣泛的應用范圍

          Logic, MCU, ADDA (Mixed-signal); Power, LED driver, Class D; SCAN, ALPG, Match...etc

          Most Flexible Configuration for Various Devices

           

           

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          ModelDescription詢價
          3380PVLSI 測試系統

           

          3380D VLSI 測試系統 

           主要特色:

          • 50/100 MHz測試頻率
          • 50/100 Mbps數據速率
          • 256數字通道管腳
          • 并行測試可達 256 sites 同測數
          • 32/64/128 M Pattern 記憶體
          • 多樣彈性 VI 電源
          • 彈性化硬體結構 (可互換式 I/O, VI, ADDA)
          • Real parallel Trim/Match 功能
          • 時序頻率測試單位 (TFMU)
          • AD/DA 功能板卡 (16/24 bits) *可選配
          • SCAN向量存儲深度(蕞 2G bits/chain) *可選配
          • ALPG 測試選配供記憶體IC用
          • STDF 工具支援
          • 測試程式/pattern 轉換器 (J750, D10, V50, E320, SC312, V7, TRI-6020, ITS9K)
          • 人性化 Window 7 操作系統
          • CRAFT C/C++ 程式語言
          • 軟件介面與 3380P/3360P 相同
          • Direct mount 治具可相容于3360P probe-card
          • Cable mount 治具可相容于3360D與3360P

           為因應未來IC晶片腳位數更多、速率更高、整合功能更為復雜的發展驅勢,Chroma VLSI測試系統3380D/3380P/3380除采用更彈性架構外,整合密度更高,且功能更強大。

          3380D/3380P/3380機型為因應高同測功能(High Parallel Test),除內建*的4-wire功能高密度IC電源(VI source) 外,更具備any-pins-to-any-site高同測功能(256數字通道管可并行測256個測試晶片),以因應未來IC晶片更高的測試需求。

          3380D/3380P/3380系列同時具備機框式直流電源供應的小型化、低耗能化設計及非常具競爭性的機臺性價比。

          3380D VLSI測試系統非常適合應用于IoT相關的晶片測試,尤其是一些具成本壓力的元件如整合功能之MCU、MEMS等,VLSI測試系統3380D/3380P/3380 系列開發至今,已在大中華地區被廣泛的采用。

          滿足晶片測試的各種應用范圍

          Logic, ADDA, LCD, LED, Power, ALPG, Match, and etc.

          滿足晶片測試的各種應用范圍

          相容性治具解決方案

          3380D C-M FT/CP solution - The cable mount kits are compatible with 3360D/3360P cable mount FT/CP

          3380D 3380D D-M CP solution - The direct mount kits are compatible with 3360P/3380P D-M probe card

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          ModelDescription詢價
          3380DVLSI 測試系統

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